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型号：BA7-Si-USB-SAM3-HP-B货号：E80060011
光谱范围：350 - 1100 纳米 功率范围@900/1070 纳米：1 W - 4 kW
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产品特点：内置风冷采样器、 业内领xian的刀口系统、 特有的图像层析重建算法、 可测15微米到9毫米大小的光斑、 可精确测量光斑轮廓、功率和位置
型号：uBeam货号：E80060028
光谱范围：350–1310nm 尺寸：163.5x83mm
1um高分辨率光束质量分析仪 350-1310nm...
产品特点：量微米级大小光束（<0.5um）、 可测量连续光束和高低重复频率的脉冲光束、 长的测量距离、 高分辨率、高灵敏度CCD读出装置、宽光谱范围，优越的快速聚焦性能
型号：S-WCD-QD-2000-XL货号：E80060025
工作波长：350-2000nm 像素点 H x V：1920x1080
量子点短波红外相机型光束质量分析仪，超高速USB 3.0，400-2000nm，采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化，多种有效面积可供选择，z高可至1920 x 1080，15×15 μm像素点，14位A/D转换，是连续...
产品特点：采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化、 覆盖波长范围400nm-1700nm 或 350nm-2000nm、 多种有效面积可供选择，最高至1920 x 1080、 像元尺寸达15 µm、 14位ADC、 全局快门；支持脉冲和连续光束、 动态范围 >2100:1、 内置固件NUC、 可在多台相机上进行并行捕获
型号：S-WCD-QD-2000-L货号：E80060026
工作波长：350-2000nm 像素点 H x V：1280x1024
量子点短波红外相机型光束质量分析仪，超高速USB 3.0，400-2000nm，采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化，多种有效面积可供选择，z高可至1920 x 1080，15×15 μm像素点，14位A/D转换，是连续...
产品特点：采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化、 覆盖波长范围400nm-1700nm 或 350nm-2000nm、 多种有效面积可供选择，最高至1920 x 1080、 像元尺寸达15 µm、 14位ADC、 全局快门；支持脉冲和连续光束、 动态范围 >2100:1、 内置固件NUC、 可在多台相机上进行并行捕获
型号：S-WCD-QD-2000货号：E80060027
工作波长：350-2000nm 像素点 H x V：640x512
量子点短波红外相机型光束质量分析仪，超高速USB 3.0，400-2000nm，采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化，多种有效面积可供选择，z高可至1920 x 1080，15×15 μm像素点，14位A/D转换，是连续...
产品特点：采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化、 覆盖波长范围400nm-1700nm 或 350nm-2000nm、 多种有效面积可供选择，最高至1920 x 1080、 像元尺寸达15 µm、 14位ADC、 全局快门；支持脉冲和连续光束、 动态范围 >2100:1、 内置固件NUC、 可在多台相机上进行并行捕获
型号：S-WCD-QD-1550-XL货号：E80060024
工作波长：400-1700 nm 像素点 H x V：1920x1080
量子点短波红外相机型光束质量分析仪，超高速USB 3.0，400-2000nm，采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化，多种有效面积可供选择，z高可至1920 x 1080，15×15 μm像素点，14位A/D转换，是连续...
产品特点：采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化、 覆盖波长范围400nm-1700nm 或 350nm-2000nm、 多种有效面积可供选择，最高至1920 x 1080、 像元尺寸达15 µm、 14位ADC、 全局快门；支持脉冲和连续光束、 动态范围 >2100:1、 内置固件NUC、 可在多台相机上进行并行捕获
型号：S-WCD-QD-1550-L货号：E80060023
工作波长：400-1700 nm 像素点 H x V：1280x1024
量子点短波红外相机型光束质量分析仪，超高速USB 3.0，400-2000nm，采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化，多种有效面积可供选择，z高可至1920 x 1080，15×15 μm像素点，14位A/D转换，是连续...
产品特点：采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化、 覆盖波长范围400nm-1700nm 或 350nm-2000nm、 多种有效面积可供选择，最高至1920 x 1080、 像元尺寸达15 µm、 14位ADC、 全局快门；支持脉冲和连续光束、 动态范围 >2100:1、 内置固件NUC、 可在多台相机上进行并行捕获
型号：S-WCD-QD-1550货号：E80100033
工作波长：400-1700 nm 像素点 H x V：640x512
量子点短波红外相机型光束质量分析仪，超高速USB 3.0，400-2000nm，采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化，多种有效面积可供选择，z高可至1920 x 1080，15×15 μm像素点，14位A/D转换，是连续...
产品特点：采用量子点传感器，对1550nm或2000nm处进行优化、 覆盖波长范围400nm-1700nm 或 350nm-2000nm、 多种有效面积可供选择，最高至1920 x 1080、 像元尺寸达15 µm、 14位ADC、 全局快门；支持脉冲和连续光束、 动态范围 >2100:1、 内置固件NUC、 可在多台相机上进行并行捕获
型号：TaperCamD-LCM货号：E80100111
工作波长：355-1150nm 像素点‚ H x V：4.2 MPixel‚ 2048 x 2048
大感光面COMS相机型光束质量分析仪，超高速USB 3.0，355-1150nm，有效面积达到 25×25 mm，4.2 M像素，像元尺寸12.5×12.5 μm，全局快门，频率更新至60Hz。...
产品特点：355 nm 至 1150 nm，标准 CMOS 检测器、 4.2M 像素，2048 x 2048 像元，25 x 25 mm 有效探测面积、 像元尺寸 12.5 µm x 12.5 µm、 HyperCal™ – 动态噪声和基线校正软件、 USB 3.0供电； 灵活的螺钉可锁定3m长的导线、 12 位A/D，板载微处理器、 无窗式传感器、 25,000:1 电子快门，79 µs 至 2 s
超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：7.6×6.1mm)
型号：BAB2G货号：E80060102
工作波段：1.2-15um 光敏面尺寸：7.6×6.1mm 最大光功率：300mW(带衰减片）
超宽中红外光束质量分析仪具有精准光束分析，高分辨率，大尺寸光敏面，精确测量光束质量M2等特点，适用于激光研究、光通信、材料加工等领域。...
产品特点：超宽感光范围；超大靶面；超高分辨率
超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：7.6×6.1m)
型号：BAB2W货号：E80060103
工作波段：1.2-15um 光敏面尺寸：7.6×6.1mm 最大光功率：300mW(带衰减片）
超宽中红外光束质量分析仪具有精准光束分析，高分辨率，大尺寸光敏面，精确测量光束质量M2等特点，适用于激光研究、光通信、材料加工等领域。...
产品特点：超宽感光范围；超大靶面；超高分辨率
超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm)
型号：BAB1G货号：E80060100
工作波段：1.2-15um 光敏面尺寸：10.8×8.7mm 最大光功率：300mW(带衰减片）
超宽中红外光束质量分析仪具有精准光束分析，高分辨率，大尺寸光敏面，精确测量光束质量M2等特点，适用于激光研究、光通信、材料加工等领域。...
产品特点：超宽感光范围；超大靶面；超高分辨率
超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm)
型号：BAB1W货号：E80060101
工作波段：1.2-15um 光敏面尺寸：10.8×8.7mm 最大光功率：300mW(带衰减片）
超宽中红外光束质量分析仪具有精准光束分析，高分辨率，大尺寸光敏面，精确测量光束质量M2等特点，适用于激光研究、光通信、材料加工等领域。...
产品特点：超宽感光范围；超大靶面；超高分辨率
超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm)
型号：BAB3G货号：E80060104
工作波段：1.2-15um 光敏面尺寸：15.3×12.2mm 最大光功率：300mW(带衰减片）
超宽中红外光束质量分析仪具有精准光束分析，高分辨率，大尺寸光敏面，精确测量光束质量M2等特点，适用于激光研究、光通信、材料加工等领域。...
产品特点：超宽感光范围；超大靶面；超高分辨率
350-1350nm BeamOn U3-VIS NIR光束质量分析仪
型号：U3- VIS NIR货号：E80060002
工作波长：350 - 1350nm 光敏面尺寸：11.34 x 7.13mm
U3光束质量分析仪是一种光束测量系统，用于实时测量单束或多束的位置、功率和轮廓。该系统是用于连续或脉冲激光束实时测量的光束诊断测量系统。它提供了激光光束参数的广泛的图形表示和分析能力，如:光束宽度、形状、位置、功率和强度轮廓。BeamOn是...
产品特点：高分辨率(2.35M像素)12位动态范围、 配有内置电动滤轮和全套附件的完整测试仪、 用于多光束分析的多个活动区域、 激光束优化、 质量控制、 高斯拟合分析、 光束位置对准、 使用方便，自带软件，基于USB3.0
超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm)
型号：BAB3W货号：E80060105
工作波段：1.2-15um 光敏面尺寸：15.3×12.2mm 最大光功率：300mW(带衰减片）
超宽中红外光束质量分析仪具有精准光束分析，高分辨率，大尺寸光敏面，精确测量光束质量M2等特点，适用于激光研究、光通信、材料加工等领域。...
产品特点：超宽感光范围；超大靶面；超高分辨率
350-1100nm DUMA M2 Beam (Si) 光束质量分析仪
型号：M2Beam-Si
光谱响应：350-1100nm 入射光功率：100µW–1W(可提供内部滤波器）
Duma新的版本的M²激光光束传播分析仪提供了Max. 的灵活性和优秀的脉冲或连续光束测量能力，从紫外波段到波长超过1.6um。...
800-1800nm DUMA M2 Beam On IR光束质量分析仪
型号：M2Beam-IR货号：E80060008
光谱响应：800-1800nm 入射光功率：100µW–5 mW
Duma新的版本的M²激光光束传播分析仪提供了Max. 的灵活性和优秀的脉冲或连续光束测量能力，从紫外波段到波长超过1.6um。...
350-1350nm DUMA M2 Beam On U3 光束质量分析仪
型号：M2Beam-U3货号：E80060007
光谱响应：350-1350nm 入射光功率：10µW–100 mW
Duma新的版本的M²激光光束传播分析仪提供了Max. 的灵活性和优秀的脉冲或连续光束测量能力，从紫外波段到波长超过1.6um。...
WinCamD-IR-BB 中远红外光束质量分析仪 2-16um 7.5Hz
型号：MP-S-WCD-IR-BB-7.5货号：E80060001
波段范围：2-16μm 分辨率：640*480 尺寸：73 x 73 x 52 mm
中远红外光束质量分析仪基于相机的光束分析系统是使用极广泛的，它无法获得最高分辨率，但是对于低重复频率脉冲激光、非高斯形状光束或者一般用途的光束分析应用，相机型光束分析仪是很好的选择。此外，Dataray光束质量分析仪通用的C/F-Mount...
产品特点：宽带2-16μm微测热辐射计、 640 x 480, 10.88 x 8.16 mm探测器、 17 µm 像元大小、 USB3.0,3米数据线、 7.5Hz频率、 自动化NUC集成快门14-bit ADC、 14 ms积分时间，脉冲测量重复频率可达1kHz、 无需斩波器和TEC制冷、 加套件可用于M2测量
190-1100nm DUMA M2 Beam 光束质量分析仪 (紫外增强型)
型号：M2Beam-UV货号：E80100049
光谱响应：190-1100nm 入射光功率：100µW–5mW
Duma新的版本的M²激光光束传播分析仪提供了Max. 的灵活性和优秀的脉冲或连续光束测量能力，从紫外波段到波长超过1.6um。...
DUMA M2 Beam 光束质量分析仪 (紫外增强型) 190-1100nm
型号：M2Beam-UV货号：E80100049
光谱范围：190-1100nm 入射光功率：100µW–5mW 光斑大小：25mm(max)
Duma新的版本的M²激光光束传播分析仪提供了Max. 的灵活性和优秀的脉冲或连续光束测量能力，从紫外波段到波长超过1.6um。 提供了两个版本： 1） 具有折叠腔的多轴刀刃扫描传感器。 2） 基于相机的传感器使用类似的折...
BeamOn UV-NIR 光束质量分析仪 (光斑分析仪 190-1310nm)
型号：BeamOn UV-NIR货号：E80100008
光谱响应：190-1310nm 感光规格：6.47mm X 4.83mm
BeamOn 是光束诊断测量系统，用于实时测量连续或脉冲激光光束，可测量激光光束参数，包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能，用于光束分析设置和给出结果。系统基于USB2.0接口，软件驱动设备，可以通过高速USB2.0...
产品特点： 实时显示光斑尺寸和高斯拟合、 实时2D/3D光斑绘图、 软件控制电子快门和增益、 报告功能，光斑分析设置和给出结果
BeamOn IR1550 光束质量分析仪 (光斑分析仪 1550nm±50nm)
型号：BeamOn IR1550货号：E80100009
光谱响应：1550nm±50nm 感光规格：6.47mm X 4.83mm
BeamOn 是光束诊断测量系统，用于实时测量连续或脉冲激光光束，可测量激光光束参数，包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能，用于光束分析设置和给出结果。系统基于USB2.0接口，软件驱动设备，可以通过高速USB2.0...
产品特点： 实时显示光斑尺寸和高斯拟合、 实时2D/3D光斑绘图、 软件控制电子快门和增益、 报告功能，光斑分析设置和给出结果
BeamOn VIS-NIR 光束质量分析仪 (光斑分析仪 350-1310nm)
型号：BeamOn VIS-NIR货号：E80060003
光谱响应：350-1310nm 感光规格：6.47mm X 4.83mm
BeamOn 是光束诊断测量系统，用于实时测量连续或脉冲激光光束，可测量激光光束参数，包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能，用于光束分析设置和给出结果。系统基于USB2.0接口，软件驱动设备，可以通过高速USB2.0...
产品特点： 实时显示光斑尺寸和高斯拟合、 实时2D/3D光斑绘图、 软件控制电子快门和增益、 报告功能，光斑分析设置和给出结果
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