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    190-850nm 紫外线光谱仪 UV-470-standard

    UV-470 光谱仪内含一个像差校正的凹面全息光栅,在UV区域提供极限性能。UV-470光谱仪的工作光谱范围为190-850 nm。 单个全息光学元件设计,提供低杂散光(0.07%@340nm),能够提高信噪比。关于OEM应用,您可以选择狭缝地尺寸或订购不带驱动板的UV-470

    产品特点

    产品型号uv-470-standard

    应用领域

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    主要参数
  • 核心参数
  • 光栅类型 焦距

    470 g/mm 70mm

  • 尺寸图
  • 详细参数

    光栅类型

    470 g/mm 像差校正凹面光栅。(aberration corrected concave grating)

    焦距

    70mm

    光谱范围

    190-850 nm

    解决(Resolution)

    1.4 nm @ 190-850 nm

    丁腈橡胶( F Nbr)

    2.0

    信噪比

    1200:1

    杂散光@340nm

    <0.07%

    杂散光@435nm

    <0.01%

    分散

    21.3 nm/mm

    狭缝尺寸 (Slit Size)

    15um标准。25、50 和 100 μm 可根据要求提供

    动态范围

    2000:1

    积分时间

    0.1 ms至 6.5 s

    像素大小

    8 um x 200 um

    像素井深度 (Pixel Well Depth)

    100,000 个电子

    A/D 分辨率 (A/D Resolution)

    16 位

    光纤输入

    SMA 905, 0.22 NA

    界面

    USB 2.0

    力量

    300 mA通过 USB

    操作系统

    Windows XP / Windows 7

    方面

    96.5 x 72.5 x 63.5 mm

    重量

    1.09 磅(0.5 kg)

    工作温度

    0° 至 55°C

     


    可选配置表

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