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    TEUS S-100 极紫外光源

    产品特点高亮度(意味着高吞吐量)以及出色的稳定性,jue对Min. 碎片,很高的正常运行时间

    产品型号TEUS S-100

    应用领域掩膜及表面检查模板检查(PMI)区域掩模检验(AIMS)掩模空bai检验(MBI)极紫外光学链中的极紫外扫描仪检测材料科学晶片光刻检验

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    主要参数
  • 核心参数
  • 激光平均功率 脉冲重复率 等离子体稳定性

    100W 25kHz或70kHz(z高) 3% RMS

  • 尺寸图
  • 技术参数

    主要技术参数

    型号

    TEUS S-100

    激光平均功率

    100W

    脉冲重复率

    25kHz或70kHz(z高)

    可收集EUV功率的立体角

    0.05sr

    等离子体尺寸*µm

    ≤ 60 or ≤ 40

    带内辐射转换效率(13.5 nm±1%)

    2 % @2π·sr 或 1.6% @2π·sr

    ЕUV碎片缓减系统后带内通量收集角(13.5nm±1%)

    11 mW 或9 mW

    碎片缓减系统后带内光谱亮度(13.5nm±1%),W/mm2·sr

    ≥ 80W/mm2·sr或≥ 140 W/mm2·sr

    等离子体稳定性

    3% RMS


    系统寿命和维护要求

    型号

    TEUS S-100

    24/7运行模式下,不使用特殊膜过滤器,收集器寿命降解10%

    不少于8个月

    24/7运行模式下,使用特殊膜过滤器,收集器寿命降解10%

    不少于18个月

    每次维护时间:

    4个月- 1天

    正常运行时间在24/7运行模式***

    4个月

     

    电力,系统尺寸和重量

    型号

    TEUS S-100

    电功率

    6.5 kW

    尺寸(L×W×H)

    1500×1000×1200 mm

    重量,包括激光部件

    770 公斤

    设备需求

    型号

    TEUS S-100

    房间清洁度等级

    ISO7

    水流速率

    10升/分钟

     


    可选配置表

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